- Ремонт Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT

Ремонт Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT анализатор металлов

Компания Анализатор24 осуществляет полный спектр услуг по техническому обслуживанию и ремонту анализатора металлов и сплавов Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT

COMPACT - сложный, высокотехнологичный прибор, соответственно ремонт такого оборудования или замена комплектующих не дешевая затея, поэтому мы предлагаем всем нашим клиентам полную, бесплатную диагностику перед началом ремонта, что бы мы могли оценить сложность и стоимость работ. Прибор можно передать нашим специалистам в главном Московском оффисе, по адрессу: Москва, Щелковское шоссе, д.100. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru

В день обращения ваш прибор будет доставлен в сервисный центр, где начнут проводить бесплатную диагностик анализатор Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT. Как правило диагности занимает от 2 до 3 рабочих дней, в зависимости от загруженности сервисного центра. После чего контактый центр свяжется с вами, объяснит причины поломки и стоимость ремонта, а в случаи отказа от ремонта вы можете забрать прибор абсолютно бесплатно, без каких-либо дополнительных компенсаций.

Первичная диагностика неполадок и ремонт Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT

В среднем ремонт приборов такого класса как COMPACT занимает от 5 до 14 рабочих дней. На сроки влиет большое множество факторов, таких как: Наличие запчастей непосредственно в сервисном центре, сложность поломки оборудования, а также степени загруженности сервисного центра.

Самые частые поломки Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT:

Анализатор COMPACT не включается
Анализатор COMPACT не начинает проводить анализ
Анализатор COMPACT постоянно перезагружается
Анализатор COMPACT не калибруется на калибровочном образце
Анализатор COMPACT не заряжается
Анализатор COMPACT выдает ошибку напряжения на рентгеновской трубке
Анализатор COMPACT не подключается к персональному компьютеру
Анализатор COMPACT выдает результаты с большой погрешностью
Анализатор COMPACT выдает неверные результаты анализа
Пробито окошко детектора
Поврежден корпус анализатора
Поднес анализатор COMPACT к слишком горячему образцу
Поднес анализатор COMPACT к магниту, перестал работать
Анализатор COMPACT не обновляется

Не стиот огорчаться если вы не нашли свою проблему в списке. Мы указали только самые частые поломки, связанные с COMPACT, наши специалисты имеют огромные опыт в сфере ремонта и обслуживания анализаторов металла, а значит нерешаемых задач для них нет. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru

Стоимость ремонта анализатор Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT

Точную стоимость ремонта анализатора Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT можно будет назвать после прохождения бесплатной диагностики в нашем сервисном центре. В среднем чек составляет порядка 500$ - 1500$. В редких случаях, когда поврежден детектор или рентгеновская трубка, стоимость может возрасти до 8000$, т.к. это две самые дорогостоящие комплектующие прибора, составляющие почти полную стоимость анализатора Hitachi (Oxford Instruments) COMPACT.

Oxford instruments (Hitachi) COMPACT

Oxford Instruments FOUNDRYMASTER COMPACT - высокопроизводительный настольный оптический эмиссионный спектрометр (OES) для контроля процесса и химического анализа металлов. Компактная конструкция позволяет вам оставаться как можно ближе к производственной линии.

Уникальная технология Jet-Stream, улучшающая точность анализа на образцах неправильной формы
Оптический мультисенсор с высоким разрешением для наилучшего разделения спектральной линии
Воздушная промывная оптика означает снижение затрат на дорогие газы
Надежные результаты с высокой повторяемостью
Прочная конструкция для использования в прочных условиях
Компактное шасси, занимающее минимальное пространство
Быстрая и простая в использовании
Превосходное простое в использовании и гибкое программное обеспечение
Большое значение с быстрой отдачей от инвестиций
Световая стойка с легким доступом для позиционирования тестовых образцов