Загрузка...

- Ремонт Fischer XDV-µ

Ремонт Fischer XDV-µ анализатор металлов

Компания Анализатор24 осуществляет полный спектр услуг по техническому обслуживанию и ремонту анализатора металлов и сплавов Fischer XDV-µ

XDV-µ - сложный, высокотехнологичный прибор, соответственно ремонт такого оборудования или замена комплектующих не дешевая затея, поэтому мы предлагаем всем нашим клиентам полную, бесплатную диагностику перед началом ремонта, что бы мы могли оценить сложность и стоимость работ. Прибор можно передать нашим специалистам в главном Московском оффисе, по адрессу: Москва, Щелковское шоссе, д.100. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru


В день обращения ваш прибор будет доставлен в сервисный центр, где начнут проводить бесплатную диагностик анализатор Fischer XDV-µ. Как правило диагности занимает от 2 до 3 рабочих дней, в зависимости от загруженности сервисного центра. После чего контактый центр свяжется с вами, объяснит причины поломки и стоимость ремонта, а в случаи отказа от ремонта вы можете забрать прибор абсолютно бесплатно, без каких-либо дополнительных компенсаций.

Первичная диагностика неполадок и ремонт Fischer XDV-µ

В среднем ремонт приборов такого класса как XDV-µ занимает от 5 до 14 рабочих дней. На сроки влиет большое множество факторов, таких как: Наличие запчастей непосредственно в сервисном центре, сложность поломки оборудования, а также степени загруженности сервисного центра.

Самые частые поломки Fischer XDV-µ:

  • Анализатор XDV-µ не включается
  • Анализатор XDV-µ не начинает проводить анализ
  • Анализатор XDV-µ постоянно перезагружается
  • Анализатор XDV-µ не калибруется на калибровочном образце
  • Анализатор XDV-µ не заряжается
  • Анализатор XDV-µ выдает ошибку напряжения на рентгеновской трубке
  • Анализатор XDV-µ не подключается к персональному компьютеру
  • Анализатор XDV-µ выдает результаты с большой погрешностью
  • Анализатор XDV-µ выдает неверные результаты анализа
  • Пробито окошко детектора
  • Поврежден корпус анализатора
  • Поднес анализатор XDV-µ к слишком горячему образцу
  • Поднес анализатор XDV-µ к магниту, перестал работать
  • Анализатор XDV-µ не обновляется

Не стиот огорчаться если вы не нашли свою проблему в списке. Мы указали только самые частые поломки, связанные с XDV-µ, наши специалисты имеют огромные опыт в сфере ремонта и обслуживания анализаторов металла, а значит нерешаемых задач для них нет. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru

Стоимость ремонта анализатор Fischer XDV-µ

Точную стоимость ремонта анализатора Fischer XDV-µ можно будет назвать после прохождения бесплатной диагностики в нашем сервисном центре. В среднем чек составляет порядка 500$ - 1500$. В редких случаях, когда поврежден детектор или рентгеновская трубка, стоимость может возрасти до 8000$, т.к. это две самые дорогостоящие комплектующие прибора, составляющие почти полную стоимость анализатора Fischer XDV-µ.


XDV-μ

Серия XDV-μ предназначена для точного измерения толщины покрытия и анализа материалов на очень тонких конструкциях. Все устройства оснащены поликапиллярной оптикой, которые фокусируют рентгеновский луч, делая измерительные пятна (fwhm) с диаметром от 10 до 60 мкм. Высокая интенсивность сфокусированного излучения приводит к короткой длине измерения. Помимо универсально применимых XDV-μ, специализированные устройства также доступны для электроники и полупроводниковой промышленности. Например, XDV-μ LD оптимизирован для измерения на печатных платах, а XDV-μ Wafer предназначен для использования в чистых помещениях.

Особенности

  • Усовершенствованная поликапиллярная рентгеновская оптика, фокусирующая рентгеновское излучение на чрезвычайно маленькие измерительные поверхности
  • Современный кремниевый дрейфовый детектор (SDD), обеспечивающий хорошую чувствительность обнаружения
  • Программируемая измерительная ступень с возможностью расширения образца для автоматизированного тестирования
  • Специализированные устройства для специализированных приложений, в том числе:
    • XDV-μ LD с большим измерительным расстоянием (не менее 12 мм)
    • XDV-μ LEAD FRAME, специально оптимизированная для измерения покрытий свинцовой рамы, таких как Au / Pd / Ni / CuFe
    • Пластина XDV-μ с автоматизированной системой патронов

Приложения:

Измерение толщины покрытия

  • Измерение как на голых, так и на собранных печатных платах
  • Анализ сложных систем покрытия в нанометровом диапазоне, например Au / Pd / Ni / CuFe на свинцовых каркасах
  • Автоматизированный контроль качества пластин диаметром до 12 дюймов
  • Тестирование базовых металлизационных слоев (металлизация под ударом, UBM) в нанометровом диапазоне
  • Соответствует DIN EN ISO 3497 и ASTM B568

Анализ материалов

  • Анализ очень легких элементов, таких как натрий
  • Анализ бессвинцовых припоев на медных столбах
  • Тестирование элементарного состава С4 и меньших выступов припоя, а также небольших контактных поверхностей в полупроводниковой промышленности