- Ремонт Fischer FISCHERSCOPE HM2000
Ремонт Fischer FISCHERSCOPE HM2000 анализатор металлов
Компания Анализатор24 осуществляет полный спектр услуг по техническому обслуживанию и ремонту анализатора металлов и сплавов Fischer FISCHERSCOPE HM2000
FISCHERSCOPE HM2000 - сложный, высокотехнологичный прибор, соответственно ремонт такого оборудования или замена комплектующих не дешевая затея, поэтому мы предлагаем всем нашим клиентам полную, бесплатную диагностику перед началом ремонта, что бы мы могли оценить сложность и стоимость работ. Прибор можно передать нашим специалистам в главном Московском оффисе, по адрессу: Москва, Щелковское шоссе, д.100. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru
В день обращения ваш прибор будет доставлен в сервисный центр, где начнут проводить бесплатную диагностик анализатор Fischer FISCHERSCOPE HM2000. Как правило диагности занимает от 2 до 3 рабочих дней, в зависимости от загруженности сервисного центра. После чего контактый центр свяжется с вами, объяснит причины поломки и стоимость ремонта, а в случаи отказа от ремонта вы можете забрать прибор абсолютно бесплатно, без каких-либо дополнительных компенсаций.
Первичная диагностика неполадок и ремонт Fischer FISCHERSCOPE HM2000
В среднем ремонт приборов такого класса как FISCHERSCOPE HM2000 занимает от 5 до 14 рабочих дней. На сроки влиет большое множество факторов, таких как: Наличие запчастей непосредственно в сервисном центре, сложность поломки оборудования, а также степени загруженности сервисного центра.
Самые частые поломки Fischer FISCHERSCOPE HM2000:
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не включается
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не начинает проводить анализ
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 постоянно перезагружается
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не калибруется на калибровочном образце
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не заряжается
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 выдает ошибку напряжения на рентгеновской трубке
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не подключается к персональному компьютеру
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 выдает результаты с большой погрешностью
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 выдает неверные результаты анализа
- Пробито окошко детектора
- Поврежден корпус анализатора
- Поднес анализатор FISCHERSCOPE HM2000 к слишком горячему образцу
- Поднес анализатор FISCHERSCOPE HM2000 к магниту, перестал работать
- Анализатор FISCHERSCOPE HM2000 не обновляется
Не стиот огорчаться если вы не нашли свою проблему в списке. Мы указали только самые частые поломки, связанные с FISCHERSCOPE HM2000, наши специалисты имеют огромные опыт в сфере ремонта и обслуживания анализаторов металла, а значит нерешаемых задач для них нет. По всем вопросам вы можете связаться с нами по номеру 8(495)640-98-64 или написать на Email info@analyzer24.ru
Стоимость ремонта анализатор Fischer FISCHERSCOPE HM2000
Точную стоимость ремонта анализатора Fischer FISCHERSCOPE HM2000 можно будет назвать после прохождения бесплатной диагностики в нашем сервисном центре. В среднем чек составляет порядка 500$ - 1500$. В редких случаях, когда поврежден детектор или рентгеновская трубка, стоимость может возрасти до 8000$, т.к. это две самые дорогостоящие комплектующие прибора, составляющие почти полную стоимость анализатора Fischer FISCHERSCOPE HM2000.
FISCHERSCOPE HM2000
FISCHERSCOPE HM2000 - это профессиональный инструмент измерения микротвердости для анализа механических и упругих свойств материалов с помощью наноиндентификации. Его очень жесткая и размерно стабильная конструкция уменьшает влияние колебаний и колебаний температуры. Постоянные условия измерения делают его идеальным для выполнения измерительных задач в исследовательских и промышленных приложениях. Кроме того, его полуавтоматические процедуры измерения делают его идеальным для серийного тестирования.
Особенности:
- Определение многочисленных пластических и эластичных свойств, таких как твердость вдавливания (конвертируемая в твердость по Виккерсу), модуль отступов и ползучесть
- Измерение и расчет параметров материала в соответствии с DIN EN ISO 14577-1 и ASTM E 2546
- Модульная конструкция обеспечивает гибкую адаптацию к требованиям заказчика, даже задним числом
- Indenters: Vickers, Berkovich или карбидный шар
- Измерительная головка, подходящая для измерения ползучести при постоянных температурах в течение нескольких часов
- Микроскоп с тремя уровнями усиления для точного позиционирования измерительного пятна
- Автономное, высокоточное определение нулевого уровня с быстрой пересылкой
- Программируемая XY-таблица для автоматического тестирования множества точек измерения
- Быстрая оценка и четкое представление результатов измерений с помощью высокопроизводительного ПО WIN-HCU
Приложения:
- Характеристика поверхностей в исследованиях и разработках, например, твердые хромовые или керамические покрытия на медицинских имплантатах
- Испытание твердости на сложных геометриях, таких как оболочки
- Последовательное тестирование массового производства деталей в гальванопокрытии
- Обеспечение качества печатных плат, например, проверка сопротивления тонких золотых покрытий или контроль изоляционных слоев
- Испытание вязкости и прочности металлической фольги
- Измерение свойств, определяющих износ, таких как твердость и прочность PVD или CVD-покрытий и твердых материалов, например покрытия TiN, CrN и TiAIN
- Механические, эластичные и пластические свойства тонких покрытий DLC
- Measurement of the hardness and elasticity of paint coatings, for example automotive paint finishes
- Testing the mechanical properties of thin anodized layers (hard anodizing)
- Proving the scratch and abrasion resistance of coatings
- Automated measurements on multiple samples
Accessories (optional):
- Enclosed measurement chamber to avoid external influences such as air streams from air conditioning units
- Active damping table to reduce vibration influences
- Heatable sample overlays for material testing at increased temperatures
- Atomic force microscope (AFM): record the three-dimensional surface of your sample and measure additional material parameters such as frictional properties
- High-precision positioning table for positioning accuracy to < 500 nm
- Более мощный микроскоп с автофокусом и автоматическим распознаванием объектов
- Держатели образцов для разных образцов