Анализатор металлов FT110A

FT110A стационарный рентгенофлуоресцентные анализатор металлов и толщиномер

FT110A помогает широкому ряд отраслей обеспечивают спецификации покрытий выполнены во избежание рисков уступающих производительность и затраты связанных с ломом или переделкой. Кроме того, это помогает увеличить производительности за счет сокращения времени измерений

Точность и надежность имеют решающее значение для любого качества Системы обеспечения или контроля качества, а также улучшенная технология рентгеновской флуоресценции внутри FT110A будет поддерживать ваш объект в самые высокие отраслевые спецификации

Обновленная система обработки изображений, новая автоматическая функциональность позиционирования измерения и большая таблица образцов делает эту анализатор покрытий легко использовать, увеличивая образец пропускная способность.

Управление устройством осуществляется с помощью интуитивно понятного пользовательского интерфейса на программном обеспечении X-ray Station на базе Windows. Это помогает оптимизировать настройку QA / QC путем непосредственной интеграции данных в Microsoft ™ Word и Excel.

Почему лаборатории выбирают FT110A?

БЫСТРЫЙ АНАЛИЗ
Мощные аналитические компоненты с высокой чувствительностью делают это можно измерить толщину и состав покрытия в секундах.

НЕРАЗРУШАЮЩИЙ
Рентгеновская флуоресценция - это неразрушающий процесс, не оставляющий следов. Это безопасно для чувствительных материалов, и использованный образец не должны быть отброшены.

ПОВЫШЕННАЯ ПРОИЗВОДИТЕЛЬНОСТЬ
Автоматические функции в FT110A означают, что вы можете подготовить и быстрее обрабатывать образцы, увеличивая пропускную способность.

ГИБКОСТЬ
FT110A может анализировать до четырех слоев покрытия плюс субстрат. Покрытия и сыпучие материалы, такие как металлические сплавы или растворы ванны могут быть измерены с использованием основных параметров (FP) или эмпирическими калибровками.

ЛЕГКО ИСПОЛЬЗОВАТЬ
Обучение простое, и любой может управлять FT110A. Просто установите образец на стадии, укажите область измерения с помощью удобный интерфейс и начать запись показаний. Пользователь интерфейс настраивается для отображения только функций, необходимых для ежедневная работа.

СОБЛЮДЕНИЕ
Методы измерения соответствуют стандартам ISO 3497, ASTM B568 и DIN 50987.

Мощность и гибкость

Имея ряд стандартных функций которые делают измерительное покрытие толщина быстрее и легче, чем когда-либо прежде, FT110A может быть изменен и расширен, выбрав из большого набора опций...

Особенности линейки Microspot XRF для печатных плат, полупроводников и электроники

Финишная обработка PCB / PWB

Возможность управления процессами отделки определяет высоту, надежность и срок хранения досок. Измерьте толщину и состав покрытия безэлектролитного никеля (EN, NiP) в соответствии с IPC 4556 и IPC 4552. Изделия Hitachi High-Tech позволяют поддерживать ваши операции в условиях жесткой толерантности, чтобы обеспечить высокое качество и избежать дорогостоящих повторных работ.

Электрическое и электронное покрытие

Компоненты должны быть покрыты в спецификации, чтобы обеспечить требуемые электрические, механические и экологические свойства. Измерить небольшие детали или сплошные полосы с помощью щелевой камеры продуктов серии X-Strata и MAXXI для управления верхними, промежуточными и ударными слоями для свинцовых каркасов (свинцовых каркасов), штырей разъемов, проводов и выводов.

Пакеты для упаковки IC

Полупроводники становятся все более миниатюризированными и сложными, требуя аналитического оборудования для измерения тонких пленок на небольших участках. Анализаторы Hitachi High-Tech разработаны для обеспечения высокоточного анализа и воспроизводимого позиционирования образцов для требовательных приложений.

Электронные производственные услуги (EMS, ECS)

Комбинирование компонентов, собранных на местном уровне и локально изготовленных для сборки окончательной сборки или продукта, включает в себя множество контрольных точек, от входящего контроля до поточного контроля процесса до конечного контроля качества. Наши продукты Microspot XRF позволяют анализировать компоненты, паять и концы по всему объекту, обеспечивая качество на каждом шагу.

Фотоэлементы

Спрос на возобновляемые источники энергии продолжает расти, поскольку фотоэлектричество играет важную роль в использовании силы солнца. Способность эффективно собирать эту энергию частично определяется качеством тонкопленочных солнечных элементов. Убедитесь, что эти ячейки аккуратно и последовательно покрыты микропроцессором XRF для достижения максимальной эффективности.

Материалы с ограниченным доступом и высокая надежность

Работая со сложной глобальной цепочкой поставок, важно доверять и проверять материалы, полученные от поставщиков. Используйте нашу технологию XRF для проверки входящих отправлений в соответствии с нормами, такими как RoHS и ELV, согласно методологии IEC 62321, и обеспечивайте применение высоконадежных покрытий для аэрокосмических и военных применений.

Microspot XRF для отделки металла

Устойчивость к коррозии

Проверьте толщину и химию нанесенных покрытий, чтобы обеспечить функциональность продукта и срок службы в суровых условиях. Легко справляйтесь с маленькими крепежами или большими сборками.

Износостойкость

Предотвратите отказ продукта, обеспечив толщину и однородность критических компонентов, работающих в абразивных средах. Можно измерить сложные формы, тонкие или толстые покрытия и готовые изделия.

Декоративная отделка

Когда целью является достижение безупречной чистоты, контроль качества на протяжении всего производственного процесса имеет решающее значение. Благодаря нашему ассортименту испытательного оборудования вы можете надежно проверить базовые материалы, испытать промежуточные и верхние слои.

Высокотемпературное сопротивление

Обработка поверхности для деталей, работающих в самых экстремальных условиях, должна контролироваться с жесткими допусками. Обеспечьте соответствие покрытий техническим характеристикам для предотвращения отзыва продукта и потенциально катастрофических сбоев.

Сравнение продуктов серии Microspot XRF

Благодаря превосходному разрешению и высокоэффективному SDD, MAXXI 6 является идеальным инструментом для измерения тончайших покрытий и состава элементов на уровне следа. MAXXI 6 может оснащаться до 6 первичными фильтрами и 8 коллиматорами для решения самых сложных задач. Конструкция гигантской щелевой камеры идеально подходит для небольших, больших или длинных образцов. Оптимизированная аппаратная конфигурация позволяет напрямую анализировать% P в приложениях с никелевым покрытием.

X-Strata 920 может быть сконфигурирован с тремя различными этапами для обработки различных форм и размеров образцов. Стандартная база позволяет быстро размещать образцы мелких или тонких деталей. Основание для мини-лунок имеет подвижный лоток, который быстро настраивается на малые и большие детали (до 6 дюймов). Моторизованная ступень XY позволяет автоматизировать анализ нескольких образцов или нескольких мест на одном образце.