Анализатор металлов FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDAL

FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDAL - стационарные рентгенофлуоресцентные измерительные приборы

C осевым с двигателем (опционально) и направленным измерения сверху вниз измерительные приборы FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDA позволяют автоматизировать серийные измерения. Разнообразие версий - отличающееся по рентгеновскому источнику, фильтру, диафрагмам и детектору - позволяют выбрать рентгеновское устройство с конфигурацией , которая наилучшим образом соответствует вашей конкретной измерительной задаче.

Особенности FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDA:

• Рентгенофлуоресцентные приборы для различных измерительных задач, сделанные с помощью различных аппаратных компонентов
• Также подходит для тестирования собранных печатных плат или деталей с углублениями из-за переменного расстояния измерения (до 80 мм)
• Автоматическое последовательное тестирование с программируемой XY-таблицей и Z-осью (опционально)
• Идеально подходит для измерения очень тонких слоев с использованием кремниевого дрейфового детектора с высоким энергетическим разрешением (устройство XDAL)

Серия XDL

Включает модели XDL 210/220/230/240, которые доступны с различными вариантами опор для размещения образцов, а также фиксированной или регулируемой осью Z. Энергодисперсионные приборы универсальны в применении и подходят для измерения толщины и анализа тонких покрытий, частей печатных плат и деталей серийного производства.

Серия XDLM

Включает модели XDLM 231/232/237, которые имеют фиксированную, управляемую вручную или моторизованную XY-опору для образцов. Все модели серии оснащены программируемой осью Z с приводом. Имеют электрически сменные апертуры и первичные фильтры. Приборы подходят для исследования тонких покрытий, даже с малой плотностью.

Модель XDAL 237

Устройство разработано для неразрушающего контроля и анализа очень тонких покрытий ≤ 0,1 мкм, имеющих небольшую плотность и сложный состав. Благодаря программируемой XY-регулировке опоры прибор отлично подходит для автоматизированных измерительных операций при мониторинге качества и производственном процессе.

Приложения FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDA:

Измерение толщины покрытия

• Измерение покрытий на больших досках и гибких печатных платах (гибкие печатные платы)
• Тонкие проводящие и / или разделяющие слои на печатных платах
• Покрытия на трехмерных компонентах
• Хромированные покрытия, например пластиковые изделия с декоративной хромированной отделкой

Анализ материалов

• Анализ гальванических ванн
• Анализ функциональных покрытий в электронике и полупроводниковой промышленности
• Анализ покрытий из твердого материала, например, CrN, TiN или TiCN