Загрузка...
Показано с 1 по 1 из 1 (всего 1 страниц)

Производители Olympus

Дефектоскоп OmniScan MX ECA/ECT

Цена: По запросу

rating

Дефектоскоп OmniScan MX ECA/ECT, проверенный на практике, надежный приборДефектоскоп OmniScan MX ECA/ECT - это проверенный на практике, надежный инструмент, способный выдерживать суровые и требователь..

Купить
Показано с 1 по 1 из 1 (всего 1 страниц)

Матричные вихретоковые дефектоскопы широко применяются во многих отраслях современной промышленности для бесконтактного измерения перемещений или каких либо изменений в конструкциях, а также измерения геометрических параметров изделий сложной формы.

Упрощает диагностику - технология применения матричных преобразователей (дефектоскопов), она не требует специальной подготовки поверхности и может применяться через слой краски, например, матричный вихретоковый дефектоскоп проводить диагностику трубопровода, который имеет большой изоляционный слой в виде краски и полипатериала. Неразрушающий контроль матрицей вихревого тока - это как правило расширение классической методики контроля вихревыми токами. Технология использует матрицу из сенсоров для картографирования поверхностей. Могут применяться раздельно-совмещенные преобразователи или мостовые преобразователи для абсолютного и/или дифференциального режимов. Эта технология матричного вихретокового метода контроля идеально заменяет контроль проникающими красками. Технология контроля матричными вихретоковыми преобразователями может применяться везде, где может применяться контроль вихревыми токами, что снижает времени проведения контроля.

Вихретоковые матрицы. Метод контроля с применением матрицы вихретоковых датчиков основан на электронном управлении и считывании информации с нескольких вихретоковых датчиков, расположенных в виде матрицы на объекте контроля. Сбор данных происходит благодаря использованию мультиплексора, он позволяет устранить взаимное влияние между отдельными датчиками. Вихретоковая матрица является новым средством, которое успешно используется во многих областях. Основным преимуществом этого метода является увеличение производительности контроля, более высокая надежность благодаря получению изображения в формате С-скан, лучшая воспроизводимость и высокая вероятность выявления дефектов благодаря полному охвату поверхности, обеспечиваемому матрицей.