Анализатор металлов X-Strata 920

X-Strata 920 стационарный рентгенофлуоресцентные анализатор металлов и толщиномер

X-Strata 920 предназначен для измерения однослойных и многослойных покрытий - в том числе легированные слои - как для электроники, так и для металлической промышленности. Наши эксперты в области внутренних приложений оптимизировали X-Strata 920, чтобы обеспечить вам надежные, повторяемые результаты для сотен приложений, включая поверхностные покрытия печатных плат, соединительные покрытия, коррозионная стойкость, декоративные износостойкость, высокая температура сопротивление и многое другое

X-Strata 920 предлагает три конфигурации для частей любой формы

Камера с прорезями снабжена небольшими частями, а также длинными, тощие образцы, камера мини-лунок дает вам гибкость для измерения более высоких частей. Выбрать моторизованный, программируемый этап автоматически измерять несколько выборок или различные местоположения на одиночных печатных платах.

X-Strata 920 - отличный инструмент для спецификаций выполняются при одновременном снижении затрат на избегая чрезмерного покрытия и повторной работы. Оператор просто загружает образцы и позиционирует их под на экране, выравнивает его с помощью лазерного фокуса и начинает измерение. Результаты отображаются в секунд, и оператор может быстро перемещаться на следующую задачу. У вас будет доверие в благодаря оптимизированным калибровкам с прослеживаемыми стандартами.

Используйте X-Strata 920 для соответствия промышленным нормам таких как IPC-4552A, ISO 3497, ASTM B568 и DIN 50987.

Станьте экспертом всего за несколько минут с интуитивно понятным, мощным программным обеспечением SmartLink, для упрощения рутинного анализа для любого оператора.

Особенности линейки Microspot XRF для печатных плат, полупроводников и электроники

Финишная обработка PCB / PWB

Возможность управления процессами отделки определяет высоту, надежность и срок хранения досок. Измерьте толщину и состав покрытия безэлектролитного никеля (EN, NiP) в соответствии с IPC 4556 и IPC 4552. Изделия Hitachi High-Tech позволяют поддерживать ваши операции в условиях жесткой толерантности, чтобы обеспечить высокое качество и избежать дорогостоящих повторных работ.

Электрическое и электронное покрытие

Компоненты должны быть покрыты в спецификации, чтобы обеспечить требуемые электрические, механические и экологические свойства. Измерить небольшие детали или сплошные полосы с помощью щелевой камеры продуктов серии X-Strata и MAXXI для управления верхними, промежуточными и ударными слоями для свинцовых каркасов (свинцовых каркасов), штырей разъемов, проводов и выводов.

Пакеты для упаковки IC

Полупроводники становятся все более миниатюризированными и сложными, требуя аналитического оборудования для измерения тонких пленок на небольших участках. Анализаторы Hitachi High-Tech разработаны для обеспечения высокоточного анализа и воспроизводимого позиционирования образцов для требовательных приложений.

Электронные производственные услуги (EMS, ECS)

Комбинирование компонентов, собранных на местном уровне и локально изготовленных для сборки окончательной сборки или продукта, включает в себя множество контрольных точек, от входящего контроля до поточного контроля процесса до конечного контроля качества. Наши продукты Microspot XRF позволяют анализировать компоненты, паять и концы по всему объекту, обеспечивая качество на каждом шагу.

Фотоэлементы

Спрос на возобновляемые источники энергии продолжает расти, поскольку фотоэлектричество играет важную роль в использовании силы солнца. Способность эффективно собирать эту энергию частично определяется качеством тонкопленочных солнечных элементов. Убедитесь, что эти ячейки аккуратно и последовательно покрыты микропроцессором XRF для достижения максимальной эффективности.

Материалы с ограниченным доступом и высокая надежность

Работая со сложной глобальной цепочкой поставок, важно доверять и проверять материалы, полученные от поставщиков. Используйте нашу технологию XRF для проверки входящих отправлений в соответствии с нормами, такими как RoHS и ELV, согласно методологии IEC 62321, и обеспечивайте применение высоконадежных покрытий для аэрокосмических и военных применений.

Microspot XRF для отделки металла

Устойчивость к коррозии

Проверьте толщину и химию нанесенных покрытий, чтобы обеспечить функциональность продукта и срок службы в суровых условиях. Легко справляйтесь с маленькими крепежами или большими сборками.

Износостойкость

Предотвратите отказ продукта, обеспечив толщину и однородность критических компонентов, работающих в абразивных средах. Можно измерить сложные формы, тонкие или толстые покрытия и готовые изделия.

Декоративная отделка

Когда целью является достижение безупречной чистоты, контроль качества на протяжении всего производственного процесса имеет решающее значение. Благодаря нашему ассортименту испытательного оборудования вы можете надежно проверить базовые материалы, испытать промежуточные и верхние слои.

Высокотемпературное сопротивление

Обработка поверхности для деталей, работающих в самых экстремальных условиях, должна контролироваться с жесткими допусками. Обеспечьте соответствие покрытий техническим характеристикам для предотвращения отзыва продукта и потенциально катастрофических сбоев.

Сравнение продуктов серии Microspot XRF

Благодаря превосходному разрешению и высокоэффективному SDD, MAXXI 6 является идеальным инструментом для измерения тончайших покрытий и состава элементов на уровне следа. MAXXI 6 может оснащаться до 6 первичными фильтрами и 8 коллиматорами для решения самых сложных задач. Конструкция гигантской щелевой камеры идеально подходит для небольших, больших или длинных образцов. Оптимизированная аппаратная конфигурация позволяет напрямую анализировать% P в приложениях с никелевым покрытием.

X-Strata 920 может быть сконфигурирован с тремя различными этапами для обработки различных форм и размеров образцов. Стандартная база позволяет быстро размещать образцы мелких или тонких деталей. Основание для мини-лунок имеет подвижный лоток, который быстро настраивается на малые и большие детали (до 6 дюймов). Моторизованная ступень XY позволяет автоматизировать анализ нескольких образцов или нескольких мест на одном образце.